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简述X荧光光谱仪的基本理论
发布时间:2019-06-04 点击:1354

从1895年伦琴发现X射线以来,产生的X射线仪器多种多样。进入80年代,由于20世纪末,半导体材料和计算机技术的迅速发展,出现了Si(Li)探测器技术和能量色散分析技术。之前说的更多的是X荧光光谱仪的应用方面,今天讲一些关于X荧光光谱仪的基本理论。

初中化学课应该都学习过,物质都是由原子组成的,每个原子都有一个原子核,而原子核周围有若干电子绕其飞行。不同元素由于原子核所含质子不同,围绕其飞行的电子层数、每层电子的数目、飞行轨道的形状、轨道半径都不一样,形成了原子核外不同的电子能级。

在受到外力作用时,例如用X光子源照射,打掉其内层轨道上飞行的电子,这时该电子腾出后所形成的空穴,由于原子核引力的作用,需要从其较外电子层上吸引一个电子来补充,这时原子处于激发态,其相邻电子层上电子补充到内层空穴后,本身产生的空穴由其外层电子再补充,直至最外层上的电子从空间捕获一个自由电子,原子又回到稳定态(基态)。这种电子从外层向内层跃迁的现象被称为电子跃迁

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原子跃迁

由于外层电子所携带的能量要高于内层电子,它在产生跃迁补充到内层空穴后,多余的能量就被释放出来,这些能量是以电磁波的形成被释放的。而这一高频电磁波的频率正好在X波段上,因此它是一种X射线,称X荧光。因为每种元素原子的电子能级是特征的,受到激发时产生的X荧光也是特征的。

利用这一特性,就能对被测件进行定性与定量分析,同时X荧光光谱仪的非破坏性,使的它广泛的应用在古物、RoHS检测等方面。

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