目前市场上用于检测元素含量分析的仪器多种多样，有直读光谱仪，也有X荧光光谱仪，之前说多的都是直读光谱仪，下面让我们来说说关于X荧光光谱仪。

首先我们先阐述一下关于X荧光光谱仪的工作原理：

X荧光光谱仪主要是有激发源（X射线管）和探测系统两大部分构成。通过X射线管产生入射X射线（一次性X射线）来激发被测样品。被激发样品中的元素便会放射出二次X射线（即X荧光），不同元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特征和波长特征，探测系统则通过测量这些不同元素所放射出的X荧光的能量、数量或者波长，通过X荧光光谱仪的分析系统将所收集的信息转换成样品中各元素的种类以及含量来进行定性或者定量分析。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。

X射线荧光的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此我们可以对检测元素进行定量分析。我们在用X射线照射被测样品时，测样可以被激发出各种波长的X射线荧光，我们需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，据此原理工作的仪器我们称它为X荧光光谱仪。

X荧光光谱仪又可分为：波长色散型和能量色散型以及WDX波长色散型三种。

两者简单的区别：

XRF用的物理原理，通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生的能量差来判断属于何种元素。所以它只能测元素而不能测化合物。
EDXRF X射线荧光出来后直接被检测器收集，通过数模转换得到结果。

台式X荧光光谱仪的优缺点：
优点：
1.分析速度快。一般2~5分钟即可测定样品中的待测元素。
2.可进行无损检测。在检测过程中可进行非接触性检测，不会接触被测物品表面，所以不会引起被测物表面的化学状态变化，也不会出现试样飞散现象。同一试样可进行反复检测，重现性好。
3.不受被检物形态限制。小荧光光谱仪非接触性的检测方式可以检测固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质甚至对于气体也可分析（气体密封在容器内）。
缺点：
1.无法进行绝对分析，做定量分析时仍需标样辅助；
2.对检测轻元素的灵敏度要低一些；
3.容易受相互元素干扰和叠加峰影响；

台式X荧光光谱仪的应用领域：

X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，X荧光光谱仪也被广泛应用于航空，环保，冶金、地质、有色、建材、商检、卫生、教学、化学、环境和生物学等等各个领域，X荧光光谱仪现已成为各个领域早为常见的检测仪器。