工作曲线是元素的X射线强度与样品中所含元素的质量百分含量的关系曲线，通过工作曲线将X荧光光谱仪测量得到的特征X射线强度转换为浓度。因此工作曲线对测量结果的影响非常大。它除了与待测元素的浓度、待测元素、仪器校正因子和元素间吸收增强效应的校正值有关以外，还与制作工作曲线的标准样品、工作曲线是否偏移、工作曲线的适用范围等有关。

制作工作曲线的样品

使用X荧光光谱仪进行X荧光分析基本上是一种相对测量，需要有标准样品作为测量基准，因而标准样品与待测样品的几何条件需要保持一致。标准样品应具有足够的均匀性及稳定性，控制样品与分析样品的冶炼过程或分析方法不同，其量值不能溯源，均匀性、稳定性不能保证。所以应选择化学性质和物理性质与分析样品相近似的标准样品来制作相应的工作曲线。包括分析元素含量范围，并保持适当的梯度，分析元素的含量须用准确、可靠的方法定值。仪器厂商在仪器出厂前按照用户要分析的材料类型预先绘制一些通用校准曲线，以减少现场分析时对标准样品的需求。可是毋庸讳言，既然是通用曲线，通用性强，而要同时达到“精”就很困难。因此，为了保证分析的精确性，还是一种基材对应一套标准样品为好。

X荧光光谱仪的工作曲线

工作曲线的偏移

通用曲线在仪器出厂时或工作伊始就已制好，但在工作现场才能知道其是否与原始状态一致。不太可能每次分析时再重新绘制工作曲线，这就需要定期用可溯源的标准样品进行点检。以验证工作曲线是否发生偏移，如果发生了偏移且偏移量在规定的允许范围内，则需要对工作曲线进行校正。如果偏移量超出了规定的允许范围，则需要重新制作工作曲线。

工作曲线的适用范围

选择工作曲线时应注意工作曲线的适用范围，一般使用范围应落在绘制曲线使用的标准样品的浓度范围内。如绘制曲线所使用的标样浓度是500～1000μg/g的，就要测试样品中的待测元素含量应该在500～1000μg/g，测试点落在了工作曲线外延部分，这样也会给测量结果带来误差。