说起这个X荧光光谱仪呢,要从很久以前说起,这要追溯到125年前......
1895年,德国物理学家伦琴(RoentgenWC)发现了X射线。1896年,法国物理学家乔治(GeorgsS)发现了X射线荧光。1948年,弗利德曼(Friedman H. )和伯克斯(Birks LS)首先研制了第一台商品性的波长色散X射线荧光(WDXRF)光谱仪。1965年,探测X射线的Si(Li)探测器问世了,随即被装配于X射线荧光光谱仪上,成为能量色散X射线荧光(EDXRF)光谱仪的核心部件。1969 年,美国海军实验室Birks研制出第一台真正意义上的能量色散X荧光光谱仪。二十世纪七十年代初,EDXRF光谱仪正式跨入仪器分析行业。与此同时,还相继出版了多部有关EDXRF光谱分析的论著。
伦琴和X射线的发现
近半个世纪以来,随着半导体技术和计算机技术的迅猛发展。特别是半导体探测器出现和性能不断地提高,能量色散X荧光光谱仪的生产和应用也达到了快速发展,其市场占有量也与波长色散X荧光光谱仪平分秋色。目前,我国已有多家研制、生产、组装能量色散X荧光光谱仪的厂商,其主要性能指标基本接近国际先进水平。能量色散X荧光分析技术发展至今,它已成为一门较为成熟的分析技术。
X荧光光谱分析技术被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域,同时已成为对物质的化学元素、物相、晶体结构进行试测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析仪器;能量色散X荧光光谱仪已成为理化实验室的重要工具,是野外现场分析和过程控制分析等方面的好帮手。