为大家介绍普及一下关于X荧光光谱分析仪的常用术语。

1、X射线强度X-ray intensity

X射线荧光光谱分析中的强度系指单位时间内的计数，通常用I表示。

2、背景background

叠加在分析线上的连续谱，主要来自试料对入射辐射的散射。

3、能量分辨energy resolution

脉冲高度分布的半高宽与平均脉冲高度之比，用百分数表示。

4、分析线analyse lines

需要对其强度进行测量并据此判定被测分析元素含量的特征谱线。X射线荧光光谱分析中一般应选择强度大、干扰少、背景低的特征谱线作为分析线。

5、经验系数法empirical coefficients method

用经验的数学校正公式，依靠一系列标准试料以实验方法确定某种共存元素对分析线的吸收增强影响系数和重叠干扰系数而加以校正的方法。

6、干扰线interference lines

与分析线重叠或部分重叠，从而影响对分析线强度进行准确测量的谱线。

7、 标准试料test portion for calibration cruve

用于绘制校准曲线或进行校正的一套已知组成和含水量量的度料。

8、检出限limit of detection

在一定置信水平下能检出的最低含量。

9、校准曲线 calibration curve

校准曲线也称工作曲线，即通过测量一套与试料化学组成、物理、化学状态相似的标准系列的X射线强度，将其与相应的元素含量用最小二乘法拟合成的曲线，用以计算在相同的仪器条件下所测未知试料中分析元素的含量。

10、基体效应matrix effects

指试料的化学组成和物理-化学状态对分析元素荧光X射线强度的影响，主要表现为吸收增强效应、颗粒度效应、表面光洁度效应、化学状态效应等。

11、基本参数法fundamental-parameters method

用原级X射线的光谱分布、质量吸收系数、荧光产额、吸收突变比、仪器几何因子等基本参数计算出纯元素分析线的理论强度，将测量强度代入基本参数法数学模型中，用迭代法计算至达到所要求的精度，得到分析元素含量的理论计算方法。

12、标准化试料test portion for standardization of instrument

用于校正仪器漂移的试料。对标准化试料的基本要求是元素分析线有适当的强度并可长时间保持稳定。

普及专业术语