X荧光光谱仪作为一种广泛应用的仪器，主要对各类样品做定性定量分析方法，针对其定性分析方法，我们一起来看看：

按照特征X射线荧光的波长或能量与原子序数的对应关系，即可举行定性分析。假如要对待测样品的目标元素举行定性分析，只要挑选合适的测量条件，对目标元素举行采谱，从谱峰和结果即可推断目标元素的存在与否，特殊注重在此过程中要同时关注目标元素的多条谱线方可下终于的结论。假如要对待测样品全部元素举行定性分析，可以按照需要挑选多个测量条件和扫描条件对元素周期表中从9F到92U的全部元素举行全程扫描，然后按照扫描的谱图举行定性分析。举行定性分析的普通步骤为：

①将X光管靶材元素的特征谱线标识出来，假如有条件，可以挑选合适的滤光片将靶材元素的谱线给除去，以免影响测试样品中含有与靶材相同的元素；

②从谱图上面的谱峰，按照所选用的条件以及对应的X射线特征谱线波长或能量，推断该谱峰有可能是什么元素的特征谱线；

③通过该元素的其它谱线是否存在谱峰以及谱峰的高度来推断该元素有没有可能存在；

④重复以上操作，直到全部谱峰都处理完。

X荧光光谱仪的定性分析方法

X射线荧光光谱法是一种相对分析办法，其分析结果受祥品基体的影响比较大。所以精确地对样品举行分类，建立相关的分析办法相当重要，如金属可以分为铜合金、铁合金、铝合金等，假如不举行具体分类，铜合金的样品直接放到铝合金的分析办法里面去做，结果将会受到背景和校正参数的影响产生不同程度的误差。所以应该逐渐究美筛选分析办法，包括尽可能多的样品类型，满足筛选的要求。