随着科学技术的发展，传统氧化物原料无法满足制造一些特殊材料的要求，因为其优良的性能，广泛用于化工、冶金、能源、机械、建材等领域。针对SiC含量的检测，使用碳硫分析仪检测是一个有效的方法。

传统方法，使用吸收重量法和氢氟酸处理分光光度计比色法，目前，高频红外碳硫分析仪无论从分析速度和精度还是准确度上都有了很大的提高，使用红外碳硫分析仪检测SiC含量，满足了企业生产需求，也满足乐国家实验室能力认可的要求。

检测方法

在电子天平上称取试样，输入计算机，样品在850℃的马弗炉中烧至恒重，冷却，然后加入助熔剂，被测样品在富氧条件下由高频炉高温加热燃烧使SiC中的C分解氧化成CO气体，该气体在载气的带动下经过气路系统进入相应的红外吸收池，对相应的红外辐射进行吸收再由探测器转化成对应的信号。此信号由计算机采集，经线性校正后转换成与CO成正比的数值，除以质量值，乘以用标准物质校准的校正系数，减去空白，可获得SiC中碳的百分含量，然后用该值再乘以转换系数3.338，即可得到SiC的百分含量。

SiC在半导体行业中的应用

碳硫分析仪检测耐火材料中的SiC含量

碳化硅主要有四大应用领域，即：功能陶瓷、高级耐火材料、磨料及冶金原料。碳化硅粗料已能大量供应，不能算高新技术产品，而技术含量极高的纳米级碳化硅粉体的应用短时间不可能形成规模经济。

⑴ 作为磨料，可用来做磨具，如砂轮、油石、磨头、砂瓦类等。

⑵ 作为冶金脱氧剂和耐高温材料。

⑶ 高纯度的单晶，可用于制造半导体、制造碳化硅纤维。

主要用途：用于3-12英寸单晶硅、多晶硅、砷化钾、石英晶体等线切割。太阳能光伏产业、半导体产业、压电晶体产业工程性加工材料。

用于半导体、避雷针、电路元件、高温应用、紫外光侦检器、结构材料、天文、碟刹、离合器、柴油微粒滤清器、细丝高温计、陶瓷薄膜、裁切工具、加热元件、核燃料、珠宝、钢、护具、触媒担体等领域。

使用碳硫分析仪对SiC的含量进行分析，这对企业的生产是非常重要的。