X荧光光谱仪是RoHS检测的常规仪器，一般认为，利用X荧光光谱仪进行RoHS检测是无损检测，但这边也有一个论点，就是需要对被测样进行拆分。那这种拆分需要注意什么？

样品拆分按何种原则进行？

①均质原则：通过适当的拆分手段来获得构成电子电气产品的均质材料。

②生产厂原则：同一生产厂生产的相同功能、同规格参数的多个模块、部件或元器件可以归为一类，从中选取代表性的样品进行拆分，使用相同的材料(包括基材和添加剂)生产的不同部件可视为一个检测单元。

③产品颜色原则：颜色不同的材料应拆分为不同的检测单元。

④豁免原则：对于相关法律法规中规定的豁免清单中的项目或材料，在拆分时应予以识别。已经明确豁免的均质材料可以不进行检测，但为了检测其他非豁免单元，往往需要将豁免单元拆分。在满足检测结果有效性的前提下，对于经拆分后无法满足检测需求量时，可采取适当归类，一同制样，直接提交检测。

RoHS检测时拆分步骤

拆分原则特殊规定有哪些？

① 豁免：对于相关法律法规中规定的豁免清单中的项目或材料，在拆分时应予以识别。

② 重量：当拆分对象难以进一步拆分且重量≤10mg 时，不必拆分，作为非均质检测单元，直接提交检测。

③ 体积：当拆分对象难以进一步拆分且体积≤1.2mm3 时，不必拆分，可以整体制样(如：0805类贴片类元件2.0×1.2×0.5mm的元件不必拆分)作为非均质检测单元，直接提交检测。