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应对RoHS,如何避免X荧光光谱仪测试误差
发布时间:2020-04-03 点击:1520

RoHS就是欧盟出台的一个政策,为了遏制在产成品中有害元素超标。实际在操作中,应对RoHS,不管是来料检验,还是生产合格,都是需要进行RoHS检测的。但是,有时候在进行双方对比检测的时候,会发现不一致,在测Pb,Cd的偏差很大,有30%,那这就尴尬了,公说公有理婆说婆有理,你说测试合格了,我说不合格。那如何校正,才能避免这种测试误差呢?

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电路板

(1)利用X荧光测试仪测试时误差是必然的,偏差只能减小,不能避免,X荧光测试基本上属于半定量分析,另外XRF软体资料一般是以常见的塑胶样品建立起来的,当然也有少部分的金属样品,但这些都远远不能满足实际使用的各种材料,这也是引起偏差的主要原因,还有就是XRF测试依赖原子激发放射光谱,这样的话不能使测试样品数据均一化,有偏差,另外目前所存在的元素,有很多激发能量比较接近,所以这也会带来很大影响。 

(2)样品中测试元素的特征谱线的强度会受到其他元素的干扰。典型的干扰有Cd可能的干扰来自溴,铅,锡,锑。

(3)铅会受溴和砷的干扰,As干扰PbLa,Br干扰PbLb。

(4)XRF没有自己的方法来做校正,误差很大,但如果校正的好,误差又可以减到很小。

(5)在使用XRF作检测时,我们自己要注意一点,它只是用来做筛选用的,而且只是测试样品一定厚度的表层,这一结果不能和ICP等定量分析结果相比较。当然,如果样品时比较均质的材质,一般XRF在做筛选时只要调整好其参数,用其来分析的无标线结果也很不错的。

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