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X荧光光谱仪检测的粒度效应
发布时间:2022-05-24 点击:859

X荧光光谱仪的粒度效应是采用X荧光光谱仪进行粉末样品分析环节一个需要重视的问题。

X荧光光谱分析法是一种表面分析方法,其分析深度只有几个微米,因此对于粉末样品的分析,X射线的强度可能随样品粒度和样品的不均匀性而变化,这个现象是粒度效应。与之伴随的就是X神仙强度因为分析样品的化学成分和矿物晶体形态不同产生的变化现象,矿物效应。

在X荧光强度的推导公式中,我们的假设,是样品都是均匀且表面光滑的。但实际上只有液体样品或经过充分抛光的纯金属或某些合金样品才能满足这些条件,对于其他固体样品特别是粉末样品,就是存在样品的不均匀及粒度效应和表面效应。所以,通常认为,使用X荧光分析方法检测样品,理想的样品就是要采用熔样机熔融样品,测量融样片检测。

如果只能选择粉末分析方法,我们需要将样品均匀化,粉末粒度尽可能小,要小于200目以下,将粉末样品的粒度和化学组成达成相同。实验显示,样品在给定的压紧份数下,粒度越小,荧光谱线的强度越高。对于给定的粒度来说,压力越大,即压紧份数越小,荧光谱线强度也越高。而不均匀样品则不同,在不均匀样品中,存在着各种不同的粒度或化学组成的颗粒,影响荧光谱线强度的因素会较复杂。在经过操作过后,仍然需要将松散的粉末样品经过压紧压实,以消除松散粉末表面结构的重复性。

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X荧光光谱仪的广泛应用

值得注意的是,X荧光光谱仪的测量方式,是一种相对比较分析方法,需要用到标准样品,标准样品的制作和样品的制作,需要完全相同,研磨力度,粒度大小,研磨时间,粘合剂,压片压力等等。

粒度效应作为X荧光光谱仪粉末样品制取中一个关键性问题,需要注意。创想仪器GLMY,专业的分析仪器生产厂家,为您带来更多的资讯。

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