在调试台式X荧光分析仪的时候，需要注意以下几点内容：

标准样的制备

标准样的制备时调试仪器的第一步，也是调试的关键。通常从正常生产时的样品中选取，SiO2、Al2O3、Fe2O3、CaO和MgO的含量应覆盖生产控制的波动范围。如不能满足此要求，则需人工配制，配制时各种原料应选用正常生产时使用的原料，样品的细度尽可能与正常生产时的控制值相一致，否则即使化学成分完全一致，因原料或细度不同而产生的基体效应的影响也很大。

X光管电流和电压的调整

对X光管激发系统而言，管电流、管电压对初级X射线的轻度影响较大，高压的设置要根据被分析的元素确定，其值一般应超过被分析元素相应线系的吸收线5kV以上。管电流的选择原则一般不要使技术率超过10000，计数率过高会引起计数统计误差变大，管电流通常选择200~300μA。通过测量样品的强度值选择不同的管电流、管压值。

测量时间的选择

样品的测量时间一般以200~300S为宜，时间太短，计数太小，误差较大；测量时间过长，则降低测量速度。

真空度的选择

一般来讲，原子序数小于16的元素在测量时样品室应抽真空，需注意的是，在元素测量前应预抽2min以上，以保证足够的真空度。

液氮水平的影响

国产能量色散X荧光分析仪多采用Si（Li）半导体探测器，探头需在液氮状态下工作，液氮瓶试用期一般为7~10d，调试过程中发现液氮水平的变化会导致计数率的变化，这种变化在液氮消耗至一半时开始显露出来，据此建议最好没24h定量补充液氮，以使计数率保持稳定。

环境条件

无论在线还是离线，X荧光分析仪通常都是长时间连续工作，这极易导致电子元器件的发热而影响测量准确性，仪器工作时应严格控制环境温度在（20±2）℃，并避免振动。

结论

台式X荧光分析仪的基础调试是仪器正常工作的关键条件，只有将仪器调试到最佳工作状态并严格按照操作规程进行测量，才能使仪器发挥最佳效能。