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X荧光分析仪RoHS检测方法
发布时间:2023-02-01 点击:785

因电子电气产品引发的环境问题是近年来人们需要着重关注的,人们环保意识的不断提高,针对电子电气产品上限制使用有害物质,是各国都会重点关注,由此,X荧光分析仪亦成为电子电气产品RoHS检测的重要手段。

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电子电气产品的RoHS检测

RoHS标准检测,是为了进一步规范电子电气产品的材料及工艺标准,以进一步规范电子电气产品中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚等有害物质,以消除有害物质对人、对环境的影响。使用X荧光分析仪进行RoHS检测,有以下有点:

1.分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

2.X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定。

3.非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

4.X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

5.分析精密度高。

6.制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

X荧光分析仪在RoHS检测环节,是有着重要的作用,对于电子电气产品的质量保障有着积极的意义。

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