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铁合金检测使用X荧光光谱仪
发布时间:2022-04-21 点击:1517

铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂,其组分直接影响着钢铁产品的质量,因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点,受到了科研和生产人员重视。

1)基于激发源的初级射线为一平行射线束射向样品表面,并且试样表面平滑、均匀并对X射线荧光为无限厚,同时计算出来的X射线荧光强度为不含背景和谱线重叠的净强度这一基本假设,建立了二元样品特征荧光的计算模型,构建了单能、多能激发时的一次荧光和二次(次级)荧光强度的计算公式,探讨了二元样品中元素含量与荧光计数率之间函数关系的理论方程,定量地描述元素间基体效应的影响,为实验中基体效应校正方法的选择提供了理论依据。

2)对比分析了试样制备技术中的粉末压片法和熔融法的优缺点,选择采用粉末压片法,同时考虑颗粒度效应及对策,配制四个系列高中低不同含量的铁合金实验样品若干;分析待测量的铁合金元素组合和元素含量变化的特点,并对元素之间的吸收增强效应作研究,结合测试结果,针对样品的组分情况,提出基体效应的实用性校正方法。

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X荧光光谱仪的铁合金检测

3)对部分国家标准样品、部颁标准样品和自配的样品进行XRF分析,采用多种基体效应校正方法进行对比,验证了基体效应校正模型,其中铬铁样品中Fe和Cr含量的平均相对误差分别为0.96%和0.99%,锰铁样品中Fe和Mn含量的平均相对误差分别为0.68%和0.34%,镍铁样品中Fe和Ni含量的平均相对误差分别为0.20%和0.79%,钨铁样品中Fe含量的平均相对误差为2.02%,分析结果达到生产要求;提出含量型计算公式的新模式,并在锰铁样品中Mn和Fe的分析中获得成功。

X荧光光谱仪的使用,解决了铁合金的快速分析、大范围检测需求。

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