铁合金是钢铁冶炼过程中重要的添加剂，其组分直接影响着钢铁产品的质量，因此对铁合金化学成分进行快速、准确分析是非常重要的。采用X射线荧光分析方法对于铁合金分析具有分析速度快、检测范围广、结果稳定可靠等优点，受到了科研和生产人员重视。

1)基于激发源的初级射线为一平行射线束射向样品表面，并且试样表面平滑、均匀并对X射线荧光为无限厚，同时计算出来的X射线荧光强度为不含背景和谱线重叠的净强度这一基本假设，建立了二元样品特征荧光的计算模型，构建了单能、多能激发时的一次荧光和二次（次级）荧光强度的计算公式，探讨了二元样品中元素含量与荧光计数率之间函数关系的理论方程，定量地描述元素间基体效应的影响，为实验中基体效应校正方法的选择提供了理论依据。

2)对比分析了试样制备技术中的粉末压片法和熔融法的优缺点，选择采用粉末压片法，同时考虑颗粒度效应及对策，配制四个系列高中低不同含量的铁合金实验样品若干；分析待测量的铁合金元素组合和元素含量变化的特点，并对元素之间的吸收增强效应作研究，结合测试结果，针对样品的组分情况，提出基体效应的实用性校正方法。

X荧光光谱仪的铁合金检测

3)对部分国家标准样品、部颁标准样品和自配的样品进行XRF分析，采用多种基体效应校正方法进行对比，验证了基体效应校正模型，其中铬铁样品中Fe和Cr含量的平均相对误差分别为0.96%和0.99%，锰铁样品中Fe和Mn含量的平均相对误差分别为0.68%和0.34%，镍铁样品中Fe和Ni含量的平均相对误差分别为0.20%和0.79%，钨铁样品中Fe含量的平均相对误差为2.02%，分析结果达到生产要求；提出含量型计算公式的新模式，并在锰铁样品中Mn和Fe的分析中获得成功。

X荧光光谱仪的使用，解决了铁合金的快速分析、大范围检测需求。