使用X荧光光谱仪检测样品中，其中很大一部分时间都是在对样品的制备上，矿石样品怎么检测，常规都是使用粉末压片法。
当我们取得矿石样品时，你会看见什么，是一整块的矿石，矿石样品有个特点就是不均匀性，单论一整块矿石，内元素都不是均匀分布。对被测荧光辐射有贡献的样品实际体积，取决于被测波长的有效穿透深度。也就是说，样品必须是完全均匀的。因为如果样品成分随深度变化，那么测得的计数就代表不了整个样品。当样品制备粗糙，不同组成的颗粒大小不同时，就容易出现这种现象。如果在制备过程中，样品制备粗糙，颗粒大小不同，那就会造成颗粒效应。
矿石怎么检测
粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大，分析精度要求不太高时应用很普遍。
压片法制样分三步：干燥和焙烧；混合和研磨；压片。有粉末直接压片、粉末稀释压片、用粘结剂衬底和镶边等方法。由于粒度效应的存在，粉末压片制样引起的强度测量误差随粒度增大呈线性增长，因此原则上要将样品粉碎至250目，甚至更细。
分析线的波长越长，粉末的粒度效应就越显著。完全消除这些效应的办法就是采用熔融技术，将样品熔成玻璃片。这不仅能有效消除粒度效应，还可以消除矿物效应和晶体效应，使样品均匀一致，降低制样误差，并且能保持很好的制样重现性。
但是压片法的一个主要问题在于其表面易吸潮，不能长期保存。