创想仪器有系列X荧光光谱仪可供客户选择，在使用X荧光光谱仪的时候，如果要得到更精准的检测数据，是需要对样品进行测前制备，下面就为大家来介绍一下固体样品的制备方法。

我们在冶金业中，一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。研磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。

样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面污染。如，分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被污染，这时采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝作磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。

创想仪器X荧光光谱仪在冶金业的使用

检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。

以上就是创想仪器小编为大家带来的关于X荧光光谱仪的固体样品制备方法。