本身，台式X荧光光谱仪利用的X荧光技术，所以属于无损害的测量仪器设备，其最大的优势在于测量样品时不需要提前进行特殊的处理即可测量的仪器，能够迅速获得测量的结果。但对于样品形状、大小能够满足测量的需求，以及是否存在干扰元素都将对台式X荧光光谱仪测量结果的准确度造成一定的影响。

样品形态

固体样本，如钢铁、PVC塑胶、PE、铝合金、铜合金等，都能使其测试的表面磨光。在应用前，切不可对抛光表面用手触摸，以防表层沾上油渍，对测量的准确度产生影响。若是沾上油渍应立即擦拭。

粉末样品，如粉尘、水泥、矿粉等，能够直接在样品杯当中进行放置，样品约为7g即可，将样品底部为10mm厚度盖住，以便于测量工作。

液体样品，通常都在特定的杯中进行倒入，利用独特的密封材料进行良好的密封，之后将其置入测试实验室进行测量。

样品的大小

样品大小应依据X荧光光谱仪光斑的大小进行区分，光斑可以完全照在样品上并且其的厚度也能达到相应的要求，能直接放置在测试室当中进行测量。光斑无法直接照在样品上，也就是说样品小于光斑，应该放在同一样品杯中，达到相应量，再进行压紧，切不可留有间隙，最后实施相应的分析。

针对较薄的样品（如X射线可直接穿透的样品），相同相似小的样品应当堆放一起方便达成最小样品的厚度限制，进而实施相应的分析。一般全部样品都要基于光谱的测量界限内部，基于高分子的样品与较轻金属性，如钛、铝等厚度为5mm的样品；基于液体厚度约15mm的用品；针对其它合金样品的厚度至少应达到1mm。

创想仪器GLMY EDX-6000型台式X荧光光谱仪

以上就是这次为大家带来的关于台式X荧光光谱检测中样品的处理方式，以达到检测准确性。