能量色散X荧光分析仪作为X荧光光谱系列产品中的重要组成部分，其在目前检验检测领域占据了重要作用。

能量色散X荧光分析仪不采用晶体分光系统，用半导体检测器的高分辨率并配以多道脉冲分析器，直接测量试样X射线荧光的能量，使仪器的结构小型化、轻便化。其主要优点是：由于无需分光系统，检测器的位置可紧挨样品；检测灵敏度可提高2~3个数量级；不存在高次衍射谱线的干扰。可以一次同时测定样品中几乎所有的元素，分析物件不受限制。仪器操作简便，分析速度快，适合现场分析。目前主要的不足之处是对轻元素还不能使相邻元素的Kα谱线完全分开，有的检测器必须在液氮低温下保存和使用，连续光谱构成的背景较大。

能量色散X荧光分析仪放弃了体积庞大，价格昂贵的色散以及测角仪系统，取而代之的用半导体直接对样品的X荧光进行能量分辨。这样，探测器可以放置在距离样品很近的位置，使其几何效率提高2~3个数量级，为利用放射性核素源或小功率X射线管提供了条件。由于没有晶体色散系统，使用低功率激发源，使EDXRF的价格不到WDXRF价格的一半，减轻了重量，提高了便携性，可以广泛地用在现场或在线快速测定。

能量色散X荧光分析仪的检测

能量色散X荧光分析仪是一种高效的分析设备，但同时我们也必须注意到它本质上仍是一种表面分析设备，分析厚度在几微米范围内，当被测样品为均质材料，且不要求被测元素化学形态的情况下，XRF可以满足厂家的质量控制和RoHS检测的要求，然而许多材料尤其电子材料多为复合材料，大部分儿童玩具表面都有漂亮的镀层等。这方面对于EDXRF广泛应用也提出了一定的挑战。

由于X荧光分析技术具有快速、准确、无需复杂制样过程、测量成本极低等突出优点，所以X荧光分析仪特别适用于对整个生产过程中有害元素（铅、汞、镉、铬、溴）的含量进行检测和控制。但对于不同的生产环节和生产阶段，应该结合不同类型X荧光分析技术的特点，进行有效合理的选择和配置。

采用能量色X荧光分析仪对多种样品可进行准确分析，是时下检验检测领域重要的方法。