贵金属因其价值高，对测量精度要求较高，X荧光分析仪采用的X射线荧光光谱技术作为一种无损检测技术，检出限低，适合用来检测样品中贵金属的组成和含量，目前已经成为贵金属分析领域中的主要检测手段。

X射线荧光分析仪作为一种较为成熟的元素分析技术，具有简单快速，准确度高，精密度好，多元素同时测定等特点，X射线荧光分析仪的发展经历了几十年，从第一台波长色散型X荧光分析仪的产生，到ED-XRF和ED-XRF合为一体的仪器的问世，其结构和功能上都有着很大的改进，使的XRF在地质、矿石、冶金、考古、贵金属检测等领域得到了广泛应用。在贵金属检测方面，由于X荧光光谱仪测定贵金属操作快捷、自动化程度高，已经成为贵金属分析领域中主要的检测手段。而为了适应各种不同形态、不同性质的贵金属检测，X荧光光谱仪也经历了结构从简单到复杂，分析速度从慢到块，分析精度从低到高的发展。

X荧光光谱仪的贵金属检测

在X荧光光谱仪出现后，已经迅速在各种科研和工业领域得到了广泛的应用，发展前期，主要还是应用基本的波长色散型和能量色散型。贵金属检测领域，使用更多的也是能量色散型X荧光光谱仪，例如，使用其测量金涂层厚度，测量多层薄膜厚度，测量喷镀过程中的金浓度，测量贵金属元素含量。

X荧光光谱仪，是科学检测贵金属含量的有效方式。