随着全球环保法规的日益严格，欧盟RoHS 2.0指令（2011/65/EU）对电子电气产品中有害物质的限制要求更加严苛。企业必须确保产品符合铅（Pb）、镉（Cd）、汞（Hg）、六价铬（Cr⁶⁺）、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）等物质的限值要求。X射线荧光光谱仪（XRF）作为一种高效、无损的检测手段，已成为RoHS 2.0合规性筛查的重要工具。

XRF在RoHS 2.0检测中的优势 

1. 快速无损检测 

X荧光光谱仪无需样品前处理，可在几秒至几分钟内完成元素分析，适用于生产线上的快速筛查。 

非破坏性检测使产品在测试后仍可正常使用，降低企业成本。

2. 多元素同时检测 

可同时测定Pb、Cd、Hg、Cr、Br（用于评估PBBs/PBDEs）等RoHS管控元素，提高检测效率。

3. 高灵敏度与准确性 

现代X荧光光谱仪设备可检测低至ppm级的重金属含量，满足RoHS 2.0的严格限值（如Cd≤100ppm，其他≤1000ppm）。

X荧光分析仪在RoHS检测中的典型应用 

1. 原材料进厂检验 

对塑料、金属、涂料等原材料进行快速筛查，确保供应链符合RoHS要求。

2. 生产过程控制 

在生产线上对关键部件（如焊锡、镀层）进行抽检，避免有害物质超标。

3. 成品终检与认证 

结合化学分析（如ICP-OES）进行验证，确保产品符合RoHS 2.0法规要求。

XRF检测的局限性及解决方案

轻元素检测受限：X荧光光谱仪对Br的检测较准，但无法直接区分PBBs/PBDEs，需结合GC-MS进一步分析。 

表面检测特性：仅能检测样品表层，对均质材料更有效，异质样品需多点测试或粉碎处理。

X荧光光谱仪凭借其快速、无损、多元素分析的特点，已成为RoHS 2.0合规检测的重要工具。企业可通过XRF进行高效筛查，并结合其他检测方法确保全面合规，从而提升产品环保竞争力，顺利进入国际市场。