由于工作曲线的原因，是会影响到台式X荧光光谱分析仪测量准确度的，下面就为大家详细解释一下。

对X荧光光谱仪测量的准确度造成的影响因素包括自身性能、样品测试、测量方式、工作曲线等。其中X荧光光谱仪器自身性能完全取决于仪器硬件设备的购进环节，实际的测量方式和仪器工作的基础理念息息相关，当前常规使用的测量方式、工作曲线、测试结果、样品检测等具有较大的影响，而且还能以简捷的方法可最大化解决测量的准确度，因此本文将分析的重点放在样品的工作线条、样品大小、样品形状、线条使用范畴、干扰样品、样品表面等不良的影响因素，并对常规、简捷的解决方案进行阐述。

简而言之，工作曲线是指元素之中X射线的强度及样品当中蕴含的百分质量、含量关系的曲线，以工作曲线能够获取测量特性是X射线强度实现转化成浓度，所以在测量结果受到工作曲线较大的影响。其不仅和待测元素、浓度、校正元素因子、增强元素之间的吸收效应等相关的校正值，还关系到工作曲线样品的制作、是否存在偏移、适用范围等。

创想仪器EDX-6000型台式X荧光光谱仪

（1）工作曲线样品的制作：标准的工作曲线样品的制作方式应具备充足的匀称性和牢固性，实际分析与控制样品冶炼流程或是分析方式具有很大的差异，它的量值无法溯源，也无法确保匀称性和牢固性，因此应当选取物理与化学物质对相似标准的样品进行工作曲线的制作；

（2）工作曲线偏移：常规的曲线在仪器开始就完成制作，但是实际的工作现场如何能够了解其能够和初始状况维持一致，并不能确保每次分析都要将工作曲线重新绘制，在此过程中，需要对可溯源样品进行定期点检，以此对工作曲线的偏移进行验证；

（3）使用范围：通常工作曲线的适用范围需要放置在绘制曲线应用样品的浓度范围内部。

以上就是这次为大家带来的相关内容。