X荧光光谱仪应用X射线的检测原理，对多种类样品进行样品的分析，能量色散X荧光光谱仪作为X荧光光谱仪中的一类，是怎么样进行检测的呢？

通常，使用晶体分光器，通过对晶体衍射现象把不同波长的X射线分开并检测，得到荧光X射线光谱。但是能量色散X荧光光谱仪却有所不同，其利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并检测，不必使用分光晶体，而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器，锂漂移锗探测器，高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对，电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲，脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内，来自试样的荧光X射线依次被半导体探测器检测，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器（通常要1000道以上）。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来，其形状与波谱类似，只是横座标是光子的能量。

创想仪器 能量色散X荧光光谱仪

能量色散X荧光光谱仪的优点在于可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此，分析速度快。另一方面，由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高，因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外，能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构，因而工作稳定，仪器体积也小。

选用合适自己的能量色散X荧光光谱仪，有效检测多种类样品，帮助实验室的研究。