在使用X射线荧光法测量，熔融法制样是目前来说一种比较广泛的制样方法。使用测量后，有些因素是会影响到样品的测量结果，除去仪器本身的误差外，在制样过程中，有些环节对测量的结果会产生一定的影响，那如何消除这些误差因素是我们在常规制样时所需要考虑的了。

熔融石英

（1）首先一个就是在熔融制样时，样品表面产生的烧损，这些肯定是会对样品的检测产生影响。

（2）另外就是样品的冷却速度，冷却需要慢慢的，如果冷却速度太快，冷却的越快，对结果的影响就会越大。

（3）样品的预氧化对于准确度（对S和AS）的影响也很大，还有试样的组成情况对全铁影响也不小。

（4）当前主流XRF综合稳定度均优于0.1%。因此XRF分析误差主要由样品所引起，更确切地说，是由于制样产生的样品高度误差以及样品定位误差所引起。有关实验表明，采用铂/金坩埚铸型的自动熔样机制备的玻璃熔片，表面曲率的变化导致的样品定位误差可高达100微米。有些粉末压片后分析表面可能因膨胀而出现弯曲（例如含高硅的样品），富含碳酸钙的样品有时也可能发生弯曲。近来，一些XRF主力厂商纷纷将其新品由上照射方式改为下照射方式，一是简化XRF结构，更重要的考虑则是减小样品定位误差。