台式X荧光光谱仪的测量方式是利用X荧光的作用，我们将在下面解答相关的知识解答。

X荧光光谱仪的相关知识

台式X荧光光谱仪（EDX）设备具体工作原理：

通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光，初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。

元素分析的基础是什么：

元素分析的基础是特征X射线，它由被测量物质的基本组成元素决定，元素不同，其特征X射线能量不同。

利用X荧光技术进行RoHS测金属的结果与有些权威机构有差异：

（1）光谱分析为表面物理分析，比如化学溶样分析方法，两种测量方法之间的差别。 

（2）金属标样自身的误差。 

（3）金属样品表面有镀层。

X荧光光谱仪进行RoHS检测时候对于六价铬、PBB和PBDE的含量：

X荧光原理决定了X荧光光谱仪不能测出六价铬、PBB和PBDE的含量，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对其的化合状态无法判别，所以六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。