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X荧光光谱仪陶瓷检测
发布时间:2023-04-25 点击:953

X荧光光谱仪在多种类样品中,都有着可靠的检测应用,X荧光光谱仪对陶瓷类样品的检测,同样可获得准确数据。

X射线荧光法的分析原理是用X射线照射试样时,试样会被激发出荧光X射线,不同元素被激发出的荧光X射线的波长(或能量)不同,且射线强度与元素含量成正比。把混合的荧光X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的数值和射线的强度,可以进行定性和定量分析。

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X荧光光谱仪的高岭土分析

X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。作为干法化学分析方法的典型代表,越来越多的陶瓷材料检测采用X射线荧光分析法进行测定材料的化学成分,主要在于这种方法的快速、准确及操作简捷。波长色散法的检测结果非常稳定,无论成分含量的高或低,准确性均符合国家标准要求,检出限低至0.001%。能量色散法能在同一时间分析出所有元素,具有准确、快速的优点,定量分析稍逊于波长色散法。但在特定范围内的材料也能获得满意的结果,特定元素检出限可达0.01%。

波长色散X射线荧光测定成分时,重复性较好。无论是主量元素,还是微量元素,其结果都比较满意。能量色散X射线荧光测定成分时,重复性也较好。但是所检测的样品范围比较窄,如石英、钾长石、钠长石、高岭土样品能迅速测定,结果较满意。混合样品的检测偏差比较大。

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