什么是X射线荧光分析仪呢？而X射线荧光分析仪的原理又是什么呢？

X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。

科技引领未来

波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。

波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同时测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。

能谱色散型X射线荧光光谱仪（EDXRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线这节进入Si-Li探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一台EDXRF是1969年问世的。近几年，由于商品EDXRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益受到认识，发展迅猛。