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台式X荧光光谱仪不同样品的不同制作方法
发布时间:2021-04-15 点击:754

X荧光光谱仪技术已经在各个领域都有应用,但同样的,不同领域中,其实样品是不尽相同的,固态、块状、粉末、液态、气态等等,所以,其实不同的样品其实制样方式还是不同的。

由样品制备和样品自身引起的误差:样品的均匀性;样品的表面效应;粉末样品的粒度和处理方法;样品中存在的谱线干扰;样品本身的共存元素影响即基体效应;样品的性质;标准样品的化学值的准确性。

引起样品误差的原因

(1)样品的组分分布不均匀 样品组分的偏析、矿物效应等。

(2)样品的组成不一致引起吸收、增强效应的差异造成的误差。

(3)样品物理状态不同,样品的颗粒度、密度、光洁度不一样;样品的沾污、吸潮,液体样品的受热膨胀,挥发、起泡、结晶及沉淀等。

(4)被测元素化学结合态的改变 样品氧化,引起元素百分组成的改变;轻元素化学价态不同时,谱峰发生位移或峰形发生变化引起的误差。

(5)在制样过程中的称量造成的误差,稀释比不一致,样品熔融不完全,样品粉碎混合不均匀,用于合成校准或基准试剂的纯度不够等。

样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等

(1)固体块状样品 包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等,其中金属材料占了很大的比例。

(2)粉末样品 包括各种矿产品,水泥及其原材料,金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等;还有岩石土壤等。

(3)液体样品 油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等。

X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适,或者经过简单的切割达到分析的要求,只需表面抛光,液体样品可以直接分析,大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂,利用压样机,把粉末样品制成块状,进行进一步的分析。

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