我们有说过手持式X荧光光谱仪的介绍，用来检测金属元素简单，方便，这次我们来说一下X荧光光谱仪的台式版本。创想新研发的台式X荧光光谱仪：
产品优势
无损检测
在无标准样品时亦可准确分析
测量时间比化学方法短，不需要辅助材料
计算机进行数据处理，分析快速准确
高分辨率图形即时显示，由不同色块加以判断区分
硅半导体探测器
元素含量分析范围为2 PPm到99.99%
采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度
全自动定量分析报告 简捷准确
自适应初试化校正
光谱的自动获取和显示
具有自动检测仪器工作状态的功能
自动判别样品及自动分析
应用领域
石化产品
塑料和聚合物
食品和化妆品
环境
矿石
医药
建筑材料
中心实验室成品检验
金属材料
产品构成
工作原理
采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量
仪器结构
数据系统
融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。
经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。
基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。
软件功能
元素含量分析范围为2 PPm到99.99%
采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度
用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法
全自动定量分析报告 简捷准确
自适应初试化校正
光谱的自动获取和显示。
具有自动检测仪器工作状态的功能。
自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。
硬件
美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统
美国SPELLMAN高压发生器
美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好
美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好
美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好
尺寸＆重量
550（W）×450(D)×450(H)mm
60Kg（主机部分）
电源与环境要求
电源：220V±10％ 50Hz
环境温度：10℃-28℃
环境湿度:≤70 ％RH(25℃室温)