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X荧光光谱仪分析检测矿石
发布时间:2022-03-10 点击:1475

X荧光光谱仪被认为是用来分析检测矿石的重要手段。

传统岩矿鉴定方法是利用显微镜,通过观察矿物物理性质、矿物形态、矿物共生特征及矿物间相互关系来鉴别矿物种类和岩石类别,是岩矿鉴定的基本手段。但是自然界很多矿物存在类质同象现象,如黝铜矿和砷黝铜矿、方铅矿和硒铅矿、钨铁矿和钨锰矿等,这些矿物在显微镜下特征相似难以区分。但是使用X荧光光谱微区分析方法,获取矿物的微区原位化学成分,解决类质同象矿物、大部分不常见硫化物以及一些少见矿物在显微镜下鉴定困难的问题,提高矿物定名的准确性。

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X荧光光谱仪的矿石探测

1、根据需要,收集铜、铅、锌、钨和钼等有色金属矿石标本共计60件。标本经切片、平面处理、抛光等步骤制成待鉴定的光片。在显微镜下对矿石标本进行研究鉴别,并结合电子探针分析的结果,给矿物定名,描述其结构构造特点,对矿石所表现的各种特征作矿物学解释。

2、利用各元素ZUI佳优化后的条件对矿石标本指定区域,进行元素分布分析,利用各待测元素的荧光强度,绘制元素的二维或三维分布图,建立X射线荧光光谱微区分析定性鉴定岩石矿物模型。

3、研究矿石标本中可能存在的干扰元素对待测元素分析谱线的谱线重叠情况,同时选择ZUI佳校正方案校正矿石的基体效应和矿物效应对定量分析结果的影响,建立X射线荧光光谱微区分析定量鉴定岩石矿物模型。并用电子探针分析、化学分析等其它分析方法验证定量鉴定结果,进一步完善X射线荧光光谱微区定量分析技术。

4、用建立的微区分析鉴定模型鉴定收集的矿石标本,绘制组分在测定区域内的分布图,根据主体组分含量,结合矿物组分含量的理论值,给矿物定名。

矿石的鉴定,使用X荧光光谱仪是一个不错的方式。

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