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选择X荧光光谱仪不能片面的追求技术指标
发布时间:2021-07-13 点击:724

X荧光光谱仪被广泛的使用于各行各业的材料分析检测,在选择一款合适的X荧光光谱仪时,就是要对仪器进行挑选,但是往往很多人会片面的追求仪器的技术指标,这是不恰当的,评价一款仪器的好坏是多重的,综合性的,我们需要根据自身的使用目的来选择相应的技术指标。

片面追求高指标:对于工业分析,所需要分析的样品种类是一定的,甚至是单一,对于结果的要求也是确定的,对于远高出这些要求指标的追求实际上就是一种资源的浪费。如,水泥厂一般所需要控制分析的就是钙和铁,用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝,全元素分析就需要增加钠、镁、硫、钾等元素。被分析样品的确定性,经验系数法是很有效的分析方法,如果一定要追求无标样法,便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的,而且数量有限,固定道就可以解决问题,一味追求可变道,既多花了钱,还牺牲了稳定性和分析时间。

片面追求准确度:对于仪器性能来说,测量结果的准确性往往是判断的标准,在日常的应用中,会使用大量精力用于判断仪器准确性,常见的方法就是与化学分析法进行对比。但是就仪器而言,准确定固然重要,但是另外精密也是很重要的,同一样品进行多次测量,应该保证测量结果的一致性,每一次测量结果与均值的差要够小。测量值与真值的差,属于系统偏差,是可校正的。

不重视稳定性和重现性:所谓稳定性是指同一样品连续测量多次的标准偏差,而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。此两项指标是作为工业分析仪器的关键指标,工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整,分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。

分析时间越短越好:X射线测量是随机事件的统计测量,是由统计规律决定的,计数的绝对量取决于测量时间,并直接决定着测量误差的大小,足够长的测量时间是测量精度的前提条件,为了保证测量精度,必须有足够的测量时间。

综上,在选择X荧光光谱仪仪器的时候,还是需要根据实际需求来选择,切不可片面的追求技术指标。

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