用X荧光光谱仪测生铁中的Si分析与化学分析误差比较大，C和S与碳硫分析仪对不上，C的差距最大，S的分析有时候差距比较大，一般±2左右。分析标样还可以，这是为什么呢？

（1）首先你要搞清楚分析方法的适用范围，确定分析结果的不确定度，这样问题就突现的比较明显了。

（2）可能是制样导致的差距，可以多分析几个标样，看看怎样，如果标样分析不相差，只是样品分析存在差距，那就可以从制样过程中找原因，样品制样过程过热，也可能导致碳有差距。

（3）另外碳分析并不是荧光强项，大偏差正常；其它元素分析时必须考虑制样问题，保持分析样品与建立曲线时一致。

（4）使用仪器制造商提供的人工晶体分析Si（如果有的话）；通常，XRF分析 C和S没有碳硫分析仪准确。

（5）主要原因是基体影响造成的。要采用与被测样品基体相同、含量接近的标准物质进行校正，予以克服。

（6） 两种方法都存在误差。XRF对Si的重现性不好，其受温度影响较大，精度不高，XRF对重元素的分析精度还可以。CS分析仪对CS分析的重现性很好，应可以信任。

（7）C用荧光肯定误差较大，S与碳硫分析仪还是比较接近的，可能标准曲线样与测试样基体差别较大，一般工业上要每天对曲线进行维护的！

（8）分析生铁中的硅可能会出现与化学值形成系统性的偏差，这可能是和生产工艺及浇铸过程有关，可以采用数学方法进宪修正，关于碳硫，可能产生不稳定的偏差，这与制样手法，磨样力度，时间等制样条件有关，所以，一般生铁中碳硫最好不要用X荧光分析，可以用碳硫仪分析。

创想GLMY X荧光光谱仪和碳硫仪