据传闻，使用X荧光光谱仪进行检测，不能但看检测结果，即定量结果，并不准确，还需要看波峰情况。

比方说Pb，如果这个波峰强度比较大的话，那么就要用ICP进一步测Pb含量了。现在的问题是这个波峰强度的大与小该怎么分呢？

创想EDX-6000型X荧光光谱仪

（1）看两条以上的谱线，例如Pb，需要看PbLa和PbLb1这两条。如果Pb元素真的含有，则两条谱线都会有比较明显的波峰出现，如果Pb元素真的含有而受到其它元素的干扰而造成了偏大，则两条谱线都会出现波峰，但是两条谱线所测试出来的结果会相差比较大。

（2）即使如CdKa(Cd的单个分析物的特征 X-射线为Ka)有一定峰的话，但是其它的谱线没峰，也不能认为它就一定含这种物质。一般来说，要有两条谱线以上（包括两条）出现波峰才能确定是含有此元素，一条谱线无法确定。

（3）但如果都用的是检量线法的话，判定方法应该也都差不多，判定Pb时是这样的，要看La和LB的波峰是否同时存在。如果只有一个波峰存在，则不能判定其一定存在。另外，要看Pb的干扰元素是否存在，X荧光光谱仪的软件可查看干扰元素的波形，如果干扰元素的波峰和Pb的波峰重叠。则要判定重叠峰大小，可用软件加以区别和分离。

以上就是这次想讲的关于X荧光光谱仪的相关内容。