之前的文章中,小编为大家介绍了关于X荧光光谱仪中误差的来源,仪器本身问题及操作中出现的问题,这次要为大家带来的是关于试样和在分析中出现的问题,导致的测量误差。
首先为大家带来的是关于X荧光光谱仪检测试样问题带来的误差,可以分为以下几个方面:
1、试样易磨性。有的试样没办法进行简单磨样,磨样比较困难易磨性较差,对测量造成影响。
2、试样成分。有的试样基本组成成分与标准试样组成成分不一致,也会影响测定结果。
3、基体效应。基体中其它元素对分析元素的影响,包括吸收和增强效应,吸收效应直接影响对分析元素的激发和分析元素的探测强度。增强效应使分析元素特征辐射增强。
4、不均匀性效应。X射线强度与颗粒大小有关,大颗粒吸收大,小颗粒吸收小,这是试样粒度的影响。这其实是对测量粉末样品时候需要注意的,研磨要仔细,均匀。
5、谱线干扰。各谱线系中谱线产生重叠、干扰,还有来自不同衍射级次的衍射线之间干扰。
X荧光光谱仪EDX-6000
接下来带来的是在X荧光光谱仪分析会带来误差的原因:
1、样品没有磨细,没有达到规定的粒度,这和样品本身和研磨力度都有关系。
2、粉末样品需要压实以减少试样的不均匀性。
3、选择无干扰的谱线、降低电压至干扰元素激发电压以下,选择适当分光晶体、计数管、准直器或调整脉冲高度分析器、提高分辩本领,在分析晶体和探测器之间放置滤光片,滤去或减弱干扰谱线。
3、严格按仪器设备管理办法安装、调试好仪器设备,避免仪器误差。
4、严格按照操作规程认真操作,避免人为的操作误差。
以上小编为大家带来的关于X荧光光谱仪试样和分析两个环节对X荧光光谱仪的测量误差影响。