X荧光分析检测仪，是一种利用X射线荧光检测方法对样品进行有效检测的手段，分析检测中，我们同样需要注意的是对样品的保存，制作，以满足我们需要的定量分析检测准确性。

虽然，X荧光分析检测方法是一项无损快速分析检测方式，但是我们在检测前，对待测样品检查，会有一定的油、水、腐蚀性包裹在待测表面，这些覆盖物对于我们的检测效果是有影响的，为了我们的检测精度，需要对表面进行再处理，如果待测面并不能代表整个待测物品的均匀属性，我们更需要对整个物品进行再处理。

为了避免X荧光分析仪对金属样品成分偏析产生误差，在制备金属样品时，如果是成分不均匀的金属样品需要重熔，快速冷却后车成圆片；如果样品的表面凹凸不平还要将样品表面进行打磨和抛光处理。

粉末样品的研磨制备

X荧光光谱仪检测熔融样片

对于一些非金属样品，对其处理方式就是研磨制成粉末，或者熔融成玻璃样品，将其研磨至三百到四百目，然后再压成圆片状，样品压片前必须均匀布入钢环内，不能出现堆积分布，否则会造成压片密度的局部差异，影响分析结果。粉磨不同品种物料时，如果用同一研钵，则必须用待测样品洗磨或是用清水把研钵洗净，残留其他物料，对检测结果是有影响的。

在研磨样品时，值得注意的是，研磨时间、添加剂、设定压力和保压时间必须与标定该工作曲线时的状态严格一致，否则会造成研磨粒度分布不均匀，带求系统的误差，影响分析结果。

制好的样片不能擦摸光洁面，也不能放在空气中太久再测量，如果是一些易氧化样品，长时间暴露在空气中，氧化后对检测结果会产生影响。

X荧光分析检测仪作为多种材料均可检测的有效手段，在定量检测环节，需要对样品进行处理，以保证测量结果准确性。