X荧光光谱仪采用的是X射线荧光来进行检测的分析仪器，让我们一起来进一步了解一下。
X射线的性质
X射线是作为一种电磁波存在，X射线具有波粒两重性的特点：光电效应，吸收、散射和衍射。
吸收：当X射线穿过物质时要减弱，减弱的大小，取决于吸收介质的厚度和密度，在用以吸收介质里，不同波长的射线减弱的程度也不同。
散射：散射系数由相干（瑞利）散射和非相干（康普顿）散射组成。相干散射是指当X光子与电子碰撞时，方向改变而能量没有损失，其波长未变。若电子所受约束松弛，碰撞的X光子要损失一部分能量给电子，因而被散射的光子能量减少，这种散射过程为非相干。
衍射：衍射是由于相干散射线的干涉而产生的。常用的衍射模型是布拉格模型，见下图，波长为λ的平行单色X射线束，以θ角照射到间距为d的一组晶面上。每个晶面所有方向上散射入射线束。但是，只有在特定的方向上，才产生增强效应。
布拉格衍射模型
这就是布拉格方程，其中n是衍射级数，n=1, 2, 3, .. d为衍射面间距（A）；θ为入射线和衍射面之间的夹角。X射线光谱仪，通常以2θ（衍射线和入射线之间的夹角）来表示。
一台X荧光光谱仪由X光管、光学系统、探测器和计算机系统组成，另外还包括冷却、真空、进样和样品制备等辅助设备。
以上就是这次为大家带来的关于X荧光光谱仪的相关内容，你学到了吗？
不知道你对光谱分析这个概念有没有大致的了解了呢。