什么是X荧光光谱分析技术？我们一起来学习一下。

X荧光光谱分析仪技术具有分析分析速度快、制样简单、重现性好、准确度高、分析范围广、非破坏性和对环境无污染的特点。

用X荧光光谱分析技术进行样品分析的主要过程是：制样、测量和数据处理。在大多数情况下，制样是X荧光光谱分析的日常工作主要步骤。通常，使用X荧光光谱分析技术经常分析的样品由块状固体，如钢材、铝合金等；粉末样品有水泥、粉尘等；液体样品有油品、水溶液和浆体等。X荧光分析粉末样品的制样方法有压片法和熔片法两种。压片法就是将样品粉磨到一定细度以后，在一定压力下压制成圆片，然后进行分析。熔片法是通过把样品熔成均匀的玻璃片进行分析，玻璃片的分析表面平整光滑，可以有效的消除粉末样品所固有的粒度效应、矿物效应和成分及密度等不均匀性引起的误差。
X荧光光谱分析包括定量分析、半定量分析和定性分析三种方法，可检测分析样品中多种元素。分析样品可以是块状固体、粉末、液体甚至是不规则的零件。

X荧光光谱分析技术的应用

定量分析是一种相对的分析方法，一个校正曲线只能对应-种样品，需准备一套高质量的标准样品，可向标样研制机构购买。无法购买的特殊样品，可自行配制。液体样品和熔融制样的样品可以考虑采用光谱纯或分析纯的物质来配制；粉末样品由于难以混匀和颗粒效应一般不考虑配制。也可以自己研制标样，即采用湿法化学分析法定值。需要注意的是，标准样品和样品的基体要一致或采用其他方法来消除基体效应，则定量分析可给出高准确度的浓度值，检出限可接近ppb（和基体及制样方法有关）。

X荧光光谱分析技术的贵金属检测

半定量分析又称无标样分析方法，即不需要制备标准曲线，实际是采用仪器生产厂家制备的通用标准曲线来分析样品。由于基体效应的关系，所以只可给出大概的浓度值。

定性分析只给出化学元素，无浓度，一般包含在半定量分析中。

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