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怎么进行X荧光光谱仪的校准指标
发布时间:2020-04-28 点击:2127

为保证X荧光光谱仪的正常运行及检测性能,在周期内需要对X荧光光谱仪进行校准,那怎么样算校准好了,就需要注意以下两个指标。

一、分辨率指标

分辨率是检验仪器性能的重要指标之一,在能谱仪中通常用能量高斯分布曲线的半高宽 (FWHM)表示。由于能谱仪对不同的X射线能量的分辨率不同,为了具有可比性,通常采用Mn元素Kα峰的半高宽表示分辨率,其大小主要取决于探测器、探测器统计涨落、仪器噪声和漂移等影响因素,其中探测器自身的工作原理与结构起主要作用。

可接受范围

X射线荧光能谱仪分辨率的可接受范围根据其实际用途决定。在满足使用目的的前提下,不必过分地追求其分辨率的高低。在贵金属首饰检测中,对分辨率要求ZUI高的是Ir,Pt,Au和Hg元素,相邻元素之间ZUI小的能量差约为360eV,据此可计算出Mn元素的ZUI大允许分辨率。

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仪器的校准

二、稳定性指标

稳定性是仪器性能的重要指标之一,它反映在相同测试条件下测试结果的重复性,可用多次重复性测试的计数或者检验结果的标准偏差表示。影响能谱仪稳定性的因素主要有电源的稳定性、环境温度的变化、激发源的稳定性以及统计计数等。

可接受范围

稳定性是检测结果不确定度的重要来源,在提出校准结论时需要给出相应的不确定度。检测结果的不确定度是表征检测能力的一个重要参考,客户可由此判断检测结果的可靠程度。因此,各使用单位应根据实际情况制订一个稳定性的可接受程度,建议X射线荧光能谱仪的稳定性指标应不超过5‰。

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