X荧光光谱仪和X射线衍射仪，是有相似又有不同的两款仪器，我们将在下面简述X射线衍射仪的原理和结构来区分X荧光光谱仪。

X射线衍射仪具有J度高、准确度高、机械稳定性好、经久耐用、易升级、操作简便和智能化的特点，能灵活地适应化工、材料、地质等行业的测试分析与研究。

利用衍射原理，J确测定物质的晶体结构，织构及应力，J确的进行物相分析，定性分析，定量分析。广泛应用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教学，材料生产等领域。
仪器采用当前ZUI先进的技术，能够J确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、薄膜材料的物相、厚度、密度、粗燥度分析。晶胞参数计算和固溶体分析以及纤维样品的取向、结晶度分析, X射线小角散射分析。广泛应用于化学、化工、地质、冶金、陶瓷、环保、医药等领域的研究。

X射线衍射仪的原理

X射线衍射仪

X射线衍射仪的形式多种多样，用途各异，但其基本构成很相似，为X射线衍射仪的基本构造原理图，主要部件包括4部分。

（1）高稳定度X射线源

提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。

（2）样品及样品位置取向的调整机构系统

样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。

（3）射线检测器

检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。

（4）衍射图的处理分析系统

现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。