使用台式X荧光光谱仪时,或多或少会遇见一些问题,其中有一项就是干扰的问题,什么是干扰呢,这边所说的干扰,不是因为你自己原因,而是因为被测物。
1、光谱干扰
在被测结果,是X射线在光谱上的重叠,是由于一些剩余杂质对检测器检测出一些能量的反映。例如,砷K-L2,3(Kα 1,2)的出峰上重叠了铅L3-M4,5(Kα 1,2)的峰,这个砷铅的干扰可用反旋计算法降低,如果使用者怀疑有砷存在,可以更进一步审查砷的干扰。光子的相互作用和检测器本身电子也会导致了峰的增加,像已知的峰消失和峰的总数增加。
X射线的影响也会生产峰叠加,例如,Fe的总峰K-L2(Kα 1,2)能叠加铅 L2-M4(Kα 1,2)峰。这样需要依靠仪器的检测器、光学系统、数据处理系统的整体想能来保证光谱干扰的最小化。如采用较高分辨率的检测器;光学系统采用更多滤光片的分光系统,或采用偏振光系统对入射光进行分离;采用高速度、大容量的数字模拟处理器。创想EDX-6000台式X荧光光谱仪采用美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统,检测下限也到了ppm级。
创想EDX-6000台式X荧光光谱仪
2、底层干扰
举个例子,在玩具中,有里层和油漆层,我们在检测油漆层所含的铅的质量分数能被底层存在的铅所干扰。如果铅的信号在油漆层和底层混合,可以控制来自底层的信号增强,并使用仪器制造商的软件进行FP分析或其他模型进行处理。像一般其他被检测物,非均匀状态下,在内层的物质和外层的漆面,被测时,需要进行预处理,分开处理。测里层,就要先处理掉外层。
3、基体效应
基体效应也叫共存元素效应,由于存在于所有元素相互影响的这个效应,在色谱中有X射线(次级X射线)被原子吸收,待测元素的吸收灵敏度明显的减少。相比之下,原子吸收X射线还可以转为发射出X射线,能明显增加待测元素以外元素的吸收灵敏度。基体效应可使用仪器软件的数学模型对基体效应进行补偿。
以上就是常见的几种在使用X荧光光谱仪时的干扰问题。