X荧光光谱仪是目前市场占有率非常高的一款仪器，诸多的优点让它在分析检测领域大放异彩。

X荧光光谱仪仪器稳定，分析速度快，自动化程度高，用单道X射线荧光光谱仪测定样品中的一个元素只需要5-20秒。用多道光谱仪，能在20到100秒内测定完样品中全部的待测元素。

X荧光光谱分析法采用的是X射线荧光光谱分析，其余元素的化学结合状态无关，所以我们往往能利用这种仪器检测多种类样品，晶体或非晶体的块状固体、粉末及封闭在容器内的液体或气体都可以直接进行测定。

X射线荧光光谱分析是一种物理分析方法。非破坏分析、测量的重现性好。同样它的分析精度也高，分析精度达到0.04%-2%。X射线光谱比其他发射光谱就爱吃呢，易于解析，尤其是定性分析。其能在250μm或3μm范围内进行定位分析，面扫描成像分析；具有在低倍率定性、定量分析（带标样）物质成分。

X荧光光谱仪的粉末检测

X荧光光谱分析法也能外表分析，测定部位是0.1mm深以上的外表层，可以用于外表层状态、镀层、薄膜成分或膜厚的测定。能有效地用于测定膜的厚度和组成。

但是同样的，X荧光分析方法也有缺点，因为X射线荧光光谱分析是一种相对的比较分析，定量分析需要标样对比，而且标样的组分与被测样的的组分要差不多，另外在制样手法上，标样的制作与样品的制作要满足一致性。

原子系数低的元素，其检出限及测定误差一般都比原子序数高的元素差；对于超轻元素（H、Li、Be），目前还不能直接进行分析。

X荧光光谱分析仪是一款被广泛使用的仪器，关注仪器的信息，了解其分析方法，帮助我们更好的实现元素的分析。