X荧光光谱仪虽具有简单的操作方式，通常大部分都是单独谱线。但基于非常复杂的样品而言，切不可忽略谱线受到的干扰，严重的甚至还会引发更大的干扰。因为存在干扰元素，在实际分析样品的同时，定会形成干扰元素的待测元素和谱线的重合，只是所测出的结果强度较大，最终为分析的结果引来较大的偏差。

通常而言，元素谱线遭受的干扰并非十分复杂，先要对常见、极易受到干扰元素谱线的部分、干扰状况等深入了解，然后判断样品测试图谱的同时，重点在于若是存在某种元素，那么应该同时存在许多位置、多条谱线，针对两条谱线以上，如Pb，应该观看PbLa与PbLb两条谱线，若是真实存在Pb元素，两条谱线将会明显体现出波峰；若是真的含有Pb元素在受到其它干扰元素的影响定会造成其偏大，故两条谱线都会有相对明显的波峰出现，但两条谱线测出的结果定会产生较大的差异。

谱线的校正

可以通过以下方法进行克服：预防干扰线，选取没有干扰的谱线用做分析线；合理的选取测量仪器的有利条件，使仪器分辨力进一步有所提升；使X光管管电压下降到干扰元素的激发电压下，预防谱线出现干扰元素;在实施数字校正的同时，现代化的仪器设备都具备数字校正的性能。

以上就是这次为大家带来的关于X荧光分析仪测量时干扰元素的影响，希望对大家有帮助。