全反射X荧光光谱仪是什么样的仪器，相对于X荧光光谱仪又有什么样的不同？我们来了解一下。

全反射X荧光光谱仪，当然是采用全反射X荧光技术，它是基于X荧光能谱技术，但是对比X射线能谱技术，目前的X荧光能谱技术采用的事以原级X光束以45°角轰击样品，全反射采用毫弧度的临界角（接近于零度角）入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，减小了载体的背景和噪声，减少样品使用量。

目前，此种光谱仪广泛的应用在环境分析（水、灰尘、沉积物、大气悬浮物），制药分析（生物体液和组织样品中的有害元素），法医学（微小证据分析），化学纯度分析（酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂），油品分析（原油、轻质油、燃料油），染料分析（墨水、油漆、粉末），半导体材料分析（挥发相分解），核材料工业（放射性元素分析）。

X荧光光谱仪，此种检测仪器分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。可检测多种状态的样品，固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态，即使是气体，只要气体密封在容器内也可以分析。

它也是一种非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。分析精密度高。

X荧光光谱仪，您检验检测的好帮手。