基体效应是属于样品中产生的误差，所以我们在进行X荧光光谱仪检测时，为了得到精准的数据，需要对样品进行长时间的制备，以减少基体效应的影响。下面就为大家带来的是基体效应的解决方法。

减小基体效应

可以使用稀释剂将样品进行高倍稀释，或者使用重吸收剂，这样的处理可以事基体的状态变稳定。但是同样，这个方法有缺点：强度会减弱；对于压片制样，可能会不均匀；加入吸收剂的话，可能会直接影响被测元素。

稀释法的原理是通过加入一定量的稀释剂或者吸收剂，这样可以使其联合质量衰减系数控制在一个相对稳定的共同值附近，这样可以有效减弱样品的吸收增强效应。由于稀释法对组成负责或者吸收和增强效应强烈的样品比较有效，所以被广泛的使用。如果将不均匀的样品用溶剂熔融或做成溶液。就可以同时得到均匀和稀释样品的效果。

目前，国内外主要使用的稀释剂有：金属Li、Na的硼酸盐或碳酸盐、碳粉、铝粉、石英粉以及有机化合物如淀粉、聚苯乙烯、酚醛树脂、甲基或乙基纤维素等。 

粉末试样配置

粉末样品研磨

补偿基体效应

内标法：在试样中加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特征与待分析元素相似。内标法要求在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。

标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素X射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。

散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关。所选的散射线可以是X光管靶材的相干和非相干散射线或试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）。所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线且所选散射线有足够的强度。常用于轻基体重痕量金属元素的测定。

以上就是这次为大家带来的关于基体效应的消除方法。