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“测厚仪” — 使用X荧光光谱仪测量镀层厚度的原理
发布时间:2020-04-14 点击:2193

长久以来,RoHS检测都是一项重要的检测方式,通常,在检测被测样品的时候,样品有镀层,那我们对于镀层进行测量,看其镀层厚度是多少,那它的原理是什么?

测试镀层厚度主要有两种方法:发射法和吸收法。前者测镀层元素的强度,但是吸收法测的是基体元素的强度,使用标样来测量更为准确。目前也有厂家的仪器有能力做到不需要标样就能直接测镀层厚度,使用的是基本参数法。其原理是先假设一个镀层厚度,通过计算可以计算出理论强度,和测量的强度比对,通过迭代,当计算出来的理论强度与测量强度吻合时,迭代停止。此时的厚度就是镀层的厚度。

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测量厚度

事实上测量镀层厚度的原理和含量测试时一样的,只是zui后把测量的强度值换算成厚度。具体测试效果其实所有的仪器都是一样的,镀层测试需要有测试标样,常用的经验系数法对测试多层镀层效果不佳,而且对镀层标样来说,每家的标样都不一样,且有的差距也很大。比如说牛津的和菲舍尔的标样都有很大的差距,所以一般情况下鼓励客户自己来做,因为自己做的标样都是在自己日常生产的条件下进行的,这样就避免了标样差异过大而长生的影响,只要标样做好了,对于仪器来说,国内的和国外的在测试精度上没有什么区别,特别是多层镀层。如果是单一物质的镀层,例如镀锌板,可以用FP法,因为吸收增qiang效应,如果镀层为混合物(例如半有机涂层)可以测里面的标志性元素,如Cr、Zn等。

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